Seica將參加AJBAN國(guó)防工業(yè)與技術(shù)展，展位號(hào)C4
08
Sep
Sep
Seica將首次亮相阿聯(lián)酋領(lǐng)先的國(guó)防工業(yè)供應(yīng)鏈展會(huì) —— AJBAN國(guó)防工業(yè)與技術(shù)展。
屆時(shí)，歡迎蒞臨C4展位，Seica將與中東地區(qū)代理商GAEP（Gulf Application Engineering and Packaging）聯(lián)合參展。
Seica專(zhuān)為國(guó)防與航空航天行業(yè)設(shè)計(jì)并制造創(chuàng)新、技術(shù)先進(jìn)的解決方案，這些領(lǐng)域?qū)Ω哔|(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、可靠性和長(zhǎng)期支持有著極為嚴(yán)苛的要求。多年來(lái)，Seica在老舊產(chǎn)品替換與返求工程方面積累了非凡的專(zhuān)業(yè)經(jīng)驗(yàn)，能夠提供極具靈活性的系統(tǒng)，確保長(zhǎng)期的售后保障。
Seica始終專(zhuān)注于國(guó)防領(lǐng)域，并為此專(zhuān)門(mén)成立了軍事航空解決方案（MAS）事業(yè)部，只為更精準(zhǔn)地滿(mǎn)足該市場(chǎng)的獨(dú)特需求。
PILOT VX 飛針測(cè)試系統(tǒng)將在C4 展位亮相，該系統(tǒng)是速度與性能的標(biāo)桿。其先進(jìn)的機(jī)械架構(gòu)與高端運(yùn)動(dòng)控制器可將測(cè)試時(shí)間最多縮短50%。12組多功能測(cè)試頭支持雙面同步探測(cè)，多達(dá)60 個(gè)測(cè)試點(diǎn)。平臺(tái)集成前沿測(cè)量硬件與創(chuàng)新測(cè)量技術(shù)，帶來(lái)卓越的測(cè)試表現(xiàn)。
優(yōu)良的VIVA軟件使不同類(lèi)型的測(cè)試和智能分析能力的并行化成為可能。再結(jié)合基于人工智能原理的算法，系統(tǒng)能在運(yùn)行時(shí)自動(dòng)優(yōu)化測(cè)試流程，在不影響測(cè)試穩(wěn)定性與覆蓋率的情況下，大大縮短測(cè)試時(shí)間。
FlyPod選件進(jìn)一步提高了測(cè)試能力，單個(gè)移動(dòng)探針可處理多達(dá)14個(gè)通道，可實(shí)現(xiàn)邊界掃描與在線(xiàn)燒錄，并且無(wú)需固定外部線(xiàn)纜。PILOT VX 還提供測(cè)試柔性電路及LED電-光性能檢測(cè)的選配功能。此外，獨(dú)有的FlyStrain? 技術(shù)可生成被測(cè)器件的壓力/力拓?fù)鋱D——這一功能過(guò)去僅見(jiàn)于傳統(tǒng)針床系統(tǒng)。如今，這些高端工具已融入飛針技術(shù)，特別適用于陶瓷、晶圓、航電及衛(wèi)星板等需要精密探測(cè)與全程追溯的嚴(yán)苛場(chǎng)景。
PILOT VX是貫穿當(dāng)今飛速發(fā)展的產(chǎn)品生命周期的全能利器——從概念、設(shè)計(jì)、原型到量產(chǎn)，全程覆蓋。
其具備即時(shí)、高精度訪(fǎng)問(wèn)原型電路板所有節(jié)點(diǎn)的特性，配合強(qiáng)大的軟硬件測(cè)量工具套件（包括PR boost功能——該功能可通過(guò)8個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電氣探針為電路板提供高達(dá)2A的電流），無(wú)需深度培訓(xùn)或定制測(cè)試程序即可實(shí)現(xiàn)快速高效的驗(yàn)證。設(shè)計(jì)驗(yàn)證完成后，VIVA基于電路板CAD數(shù)據(jù)的自動(dòng)測(cè)試程序生成功能，可簡(jiǎn)化預(yù)量產(chǎn)或全面生產(chǎn)流程，最大限度縮短設(shè)置時(shí)間。得益于速度與性能的顯著提升，Pilot VX現(xiàn)已成為高產(chǎn)量生產(chǎn)環(huán)境中的關(guān)鍵解決方案——在自動(dòng)化與可靠性至關(guān)重要的領(lǐng)域尤為重要。
在國(guó)防領(lǐng)域，設(shè)備延壽與器件淘汰是普遍難題。為此，Seica推出Valid LR系統(tǒng)，專(zhuān)為替換陳舊設(shè)備打造。該平臺(tái)靈活且強(qiáng)大，可快速、精準(zhǔn)地把既有 TPS（Test Program Set）遷移到新設(shè)備，完整保留原有故障檢測(cè)覆蓋率。用戶(hù)可像在原測(cè)試儀上一樣繼續(xù)使用既有測(cè)試程序，且該平臺(tái)面向未來(lái)，更添優(yōu)勢(shì)。
除了體驗(yàn)Seica在C4展位的測(cè)試解決方案外，參觀(guān)者還可深入了解Canavisia的工業(yè)5.0軟硬件技術(shù)。這些方案專(zhuān)注于從機(jī)器、工廠(chǎng)及建筑中采集并數(shù)字化數(shù)據(jù)，助力流程優(yōu)化、預(yù)防性維護(hù)與智能能源管理。
歡迎蒞臨C4展位，探索Seica面向國(guó)防領(lǐng)域的尖端測(cè)試方案，并與我們的頂級(jí)專(zhuān)家面對(duì)面交流——助您從技術(shù)及成本雙重維度攻克測(cè)試難題。