SEICA將參加慕尼黑PRODUCTRONICA展會 – 展位號A1-538 – 11月18-21日
10
Oct
Oct
Seica將亮相慕尼黑Productronica展會：致力于提供智能創(chuàng)新、高性能與集成化解決方案。
Seica積極與客戶溝通，深度理解客戶需求與挑戰(zhàn)，并結(jié)合數(shù)十年來開發(fā)測試解決方案所積累的深厚專業(yè)知識，Seica始終致力于智能創(chuàng)新，能夠提供前沿的高性能集成化測試解決方案。2025年慕尼黑Productronica展會，在A1-538展位Seica將展示最新電路板、模塊及半導(dǎo)體測試解決方案。鑒于自動化已成為優(yōu)化現(xiàn)代制造流程的關(guān)鍵要素，展會將重點呈現(xiàn)Seica先進(jìn)的生產(chǎn)自動化能力，并正式拉開2026年公司成立40周年慶典序幕。
Seica旗艦飛針測試解決方案PILOT VX將以全新現(xiàn)代化設(shè)計亮相，配備FlyPod和FlyStrain?等獨特選件及優(yōu)良的VIVA軟件管理系統(tǒng)。該系統(tǒng)的飛針測試速度與性能為行業(yè)立下“金牌標(biāo)準(zhǔn)”，成為企業(yè)生產(chǎn)的強大工具，可用于當(dāng)今快速發(fā)展產(chǎn)品生命周期的每個階段——從概念設(shè)計、原型開發(fā)到量產(chǎn)制造。
PILOT VX實現(xiàn)全自動化運行，其尖端機械架構(gòu)與專有運動控制器可將測試時間縮短達(dá)50%。12個多功能測試頭可同時進(jìn)行雙面探測，最多支持60個測試點。其先進(jìn)測量硬件可通過8個標(biāo)準(zhǔn)電氣探針為電路板供電（每探針最高2A），配合新型微波測量技術(shù)，實現(xiàn)卓越的測試性能。
該系統(tǒng)融合新一代LED傳感器（可見光與紅外傳感器于一體）及750+MHz飛行示波器，突破高頻應(yīng)用新極限。VIVA?軟件平臺通過支持多類型并行測試進(jìn)一步節(jié)省時間，其基于人工智能原理的智能分析功能可在運行時自動優(yōu)化測試流程。
觀眾還將看到兩項全新解決方案——Seica VALID平臺的最新產(chǎn)品。該平臺以采用針床或固定式行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)接收器，實現(xiàn)高性能在線電路測試與功能測試而著稱。
VALID SL將在全自動PCBA生產(chǎn)線中展出，配備Seica Automation的裝卸模塊、貼標(biāo)機和傳送帶。該設(shè)計便于集成至大批量生產(chǎn)環(huán)境，兼顧靈活性、成本效益與生產(chǎn)效率。其無線纜架構(gòu)保障信號完整與長期可靠，全新128通道掃描卡可擴展至4400以上通道，從容應(yīng)對復(fù)雜的測試需求。VALID SL的擴展測試區(qū)域可選單級或雙級配置，配備全新VIVA?接口支持多任務(wù)架構(gòu)，為編程員和操作員提供出色的人體工學(xué)設(shè)計、便捷的維護(hù)體驗以及最佳的使用感受。
展出的VALID LR是Seica公司最新一代平臺，專為替代陳舊系統(tǒng)而設(shè)計，通過提供完整的測試程序兼容性，確保客戶既能延續(xù)既定測試流程，又能實現(xiàn)系統(tǒng)更新?lián)Q代。Seica在提供舊系統(tǒng)替代方案方面擁有深厚的經(jīng)驗，成功替換了眾多品牌的舊式測試系統(tǒng)，幫助客戶以具競爭力的成本，實現(xiàn)長期后勤支持的可持續(xù)運營。
VALID LR原生多資源架構(gòu)賦予其高靈活性，可無縫遷移現(xiàn)有測試程序和夾具，既能支持傳統(tǒng)技術(shù)，又能兼容高性能尖端工具，這些工具同樣適用于新測試程序的開發(fā)。VALID LR采用創(chuàng)新無線纜架構(gòu)，具備高度可擴展性與卓越性能，通過1:8數(shù)字多路復(fù)用器支持多達(dá)5888個通道。其配備24路可編程電源，確保電源測試的靈活管理。基于PLC系統(tǒng)的直觀可定制操作界面支持OPC-UA通信協(xié)議，可無縫集成至現(xiàn)代測試環(huán)境。
全新S20系列展品包含兩款專為功率半導(dǎo)體測試而研發(fā)的解決方案。S20 IS3為分立功率器件（包括碳化硅和氮化鎵技術(shù)）提供尖端測試方案。該設(shè)備兼具交流/直流靜態(tài)與動態(tài)測試能力，可精確重復(fù)地表征電氣參數(shù)——這是確保IGBT、MOSFET和二極管等元件可靠性與性能的關(guān)鍵，成為研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量控制環(huán)節(jié)的必備工具。靜態(tài)測試測量導(dǎo)通電壓（Vce, Vds）、漏電流（Ic, Id）及閾值電壓（Vth）等關(guān)鍵參數(shù)，確保器件符合電氣規(guī)格；動態(tài)測試則評估開關(guān)特性，包括導(dǎo)通/關(guān)斷時間、上升/下降時間及能量損耗，這些參數(shù)對實際應(yīng)用至關(guān)重要。通過同步測試靜態(tài)與動態(tài)參數(shù)，制造商可在元件裝板前篩出潛在隱患，省卻現(xiàn)場失效的高額代價，并確保器件在真實工況下發(fā)揮最佳性能。
S20 IS3的緊湊型設(shè)計，節(jié)省空間，實現(xiàn)直流靜態(tài)、柵極及交流動態(tài)測試的一體化集成。該系統(tǒng)支持靈活配置，用戶可根據(jù)當(dāng)前測試需求選擇模塊組合，同時具備擴展能力，可隨時增配模塊以滿足新增測試要求。集成的高級菜單驅(qū)動軟件操作簡便，便于快速完成測試設(shè)置；內(nèi)置示波器等功能可有效輔助調(diào)試過程，并實現(xiàn)測試結(jié)果的全程可追溯。
S20 RTH測試系統(tǒng)專為精準(zhǔn)測量熱阻（RTH）特性而設(shè)計，具備先進(jìn)的電源與散熱管理能力。在現(xiàn)代電源設(shè)計中，系統(tǒng)整體電效率與半導(dǎo)體器件結(jié)溫受到高度關(guān)注，此類測試可評估開關(guān)電源中功率MOSFET器件承受的熱應(yīng)力。通過這種計算并結(jié)合器件的物理特性，可以預(yù)測結(jié)內(nèi)達(dá)到的溫度，以及所需的允許余量或散熱片，以確保系統(tǒng)在運行期間具有適當(dāng)?shù)臒嵊嗔俊＿@種方法非常重要，因為正確的計算可以更準(zhǔn)確地評估系統(tǒng)壽命，并確保在安全工作區(qū)內(nèi)穩(wěn)定運行。
Seica的電源開關(guān)硬件是測試架構(gòu)的關(guān)鍵組件，可實現(xiàn)負(fù)載電流的可編程控制關(guān)斷，最大限度減少振蕩現(xiàn)象，使系統(tǒng)在高電流關(guān)斷后最快80微秒內(nèi)即可執(zhí)行精密測量。測試臺配置具備可擴展性，可根據(jù)吞吐量需求從2個被測設(shè)備（DUT）擴展至12個并行測試的DUT。系統(tǒng)自動測量并控制流向各DUT的冷卻液溫度、流量及壓力，優(yōu)化熱穩(wěn)定性并確保測量可靠性。冷卻液排放功能可由系統(tǒng)自動處理，導(dǎo)入獨立儲液罐或接入工廠整體系統(tǒng)。該特性顯著簡化初始設(shè)置操作，支持最高120°C的溫度及100升/分鐘的流量。
S20 IS3與S20 RTH均通過行業(yè)通用標(biāo)準(zhǔn)傳輸所有測試測量值與分檔數(shù)據(jù)，而Seica強大的軟件能力可滿足終端用戶的獨特需求。
所有展示解決方案均搭載Seica VIVA軟件平臺，該平臺能與客戶制造流程的各個環(huán)節(jié)實現(xiàn)智能集成——涵蓋數(shù)據(jù)采集、可追溯性、MES交互及維修操作。VIVA還運用人工智能技術(shù)增強故障檢測能力，在電子板卡及模塊測試過程中提供更先進(jìn)的技術(shù)解決方案，從而提升診斷精度與整體測試效率。
所有系統(tǒng)均搭載Canavisia工業(yè)監(jiān)控解決方案，可遠(yuǎn)程監(jiān)測電流電壓消耗、主電源狀態(tài)、溫度、指示燈及其他關(guān)鍵參數(shù)，這些參數(shù)不僅能驗證設(shè)備運行狀態(tài)，還可為預(yù)防性維護(hù)提供依據(jù)，使系統(tǒng)全面符合當(dāng)代工業(yè)5.0標(biāo)準(zhǔn)。
融合機械與電子創(chuàng)新、智能軟件及可擴展實施模型，Seica助力客戶實現(xiàn)高效、高精、可視化的生產(chǎn)運營，并與客戶攜手慶祝四十年行業(yè)引領(lǐng)與技術(shù)革新之路。
Seica——智能創(chuàng)新、高性能與集成解決方案的強力引擎，誠邀您蒞臨A1-538展位！